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局部放電檢測(cè)儀常見(jiàn)的十五種波形圖譜(二)

  上一期講了局部放電檢測(cè)儀常見(jiàn)的十五種波形圖譜的前五種,這一期我們來(lái)將第六到第十種常見(jiàn)的波形。

  ⑥接觸不良的干擾圖形。
  (圖8-20)(接觸不良)

  波形特點(diǎn):對(duì)稱(chēng)地分布在實(shí)驗(yàn)電壓零點(diǎn)兩側(cè),幅值大致不變,但在實(shí)驗(yàn)電壓峰值附近下降為零。波形粗糙不清晰,低電壓下即出現(xiàn)。電壓升高時(shí),幅值緩慢增加,有時(shí)在電壓達(dá)到一定值后會(huì)完全消失。

  原因:實(shí)驗(yàn)回路中金屬與金屬不良接觸的連接點(diǎn);塑料電纜屏蔽層半導(dǎo)體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來(lái)消除)。

  ⑦可控硅元件的干擾圖形。
  (圖8-21)(可控硅元件)

  波形特點(diǎn):位置固定,每只元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立訊號(hào)。電路接通,電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí)訊號(hào)幅值增加,試驗(yàn)調(diào)壓時(shí),該脈沖訊號(hào)會(huì)發(fā)生高頻波形展寬,從而占位增加。

  原因:鄰近有可控硅元件在運(yùn)行。

  ⑧繼電器、接觸器、輝光管等動(dòng)作的干擾。
  (圖8-22)(繼電器、接觸器、輝光管干擾)

  波形特點(diǎn):分布不規(guī)則或間斷出現(xiàn),同試驗(yàn)電壓無(wú)關(guān)。

  原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗(yàn)器及有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生。

  ⑨熒光燈的干擾圖形。
  (圖8-23)熒光燈的干擾

  波形特點(diǎn):欄柵狀,幅值大致相同的脈沖,伴有正負(fù)半波對(duì)稱(chēng)出現(xiàn)的兩簇脈沖組。

  原因:熒光燈照明

  ⑩無(wú)線電干擾的干擾圖形。
  (圖8-24)無(wú)線電干擾

  波形特點(diǎn):幅值有調(diào)制的高頻正弦波,同試驗(yàn)電壓無(wú)關(guān)。

  原因:無(wú)線電話、廣播話筒、載波通訊等。

  下一期我們來(lái)講局部放電檢測(cè)儀常見(jiàn)的十五種波形圖譜的最后五種。

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