局放儀（全稱(chēng)：局部放電檢測(cè)儀）在使用過(guò)程中，因?yàn)榇嬖诰植糠烹?，難免產(chǎn)生干擾。但是其實(shí)有很多辦法能降低干擾，獲得準(zhǔn)確的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。下面就是局放儀的天線門(mén)控抑制干擾，也許您還沒(méi)聽(tīng)過(guò)，武漢合眾電氣的文章介紹在下面給您介紹。

  試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)，各種無(wú)線電波以及其它設(shè)備產(chǎn)生的放電，都屬于外部干擾，如果這些干擾通過(guò)空間串入試驗(yàn)回路而影響到試驗(yàn)時(shí)，可以采用天線門(mén)控抗干擾的措施。首先將某個(gè)通道接入天線（一般為CH2），將圖5-32中的天線通道選為CH2，使用相位開(kāi)窗，框住CH2信號(hào)比較小的部分（大于該值為干擾），讀出pC值后，輸入到“天線”的“上閾”編輯框中。在試驗(yàn)當(dāng)中，選中“同極性”和“異極性”，即可利用天線通道的干擾信號(hào)屏蔽其它通道的相同相位的干擾，同時(shí)取消選中“同極性”和“異極性”可恢復(fù)干擾的對(duì)照顯示。

  當(dāng)兩個(gè)通道信號(hào)之間產(chǎn)生變異，可通過(guò)相移（0-±360℃）和加寬（0-±360℃，0℃不加寬）來(lái)調(diào)整相位和寬度，以便消除空間干擾，方法是：將CH1的干擾信號(hào)開(kāi)窗分析，在脈沖分析畫(huà)面得到其相位度數(shù)，同理得到另一通道的相位度數(shù)，兩者之差值輸入到“相移”框內(nèi)，并適當(dāng)修改干擾相移和干擾加寬的值。

  以上是局放儀的一種抗干擾辦法，局放儀的天線門(mén)控抑制干擾。如果對(duì)局放儀抗干擾有更多疑問(wèn)，或者對(duì)局放儀有需求，可以聯(lián)系我們。